- Ricercatore, Tecnopolo di Mirandola TPM; Mirandola, Modena — 2014–in corso
- Borsista, Università degli Studi Modena e Reggio Emilia, Modena — 2010–2011
- Assegnista di Ricerca, Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, Modena — 2009–2010
- Dottorato in Physics and Nanosciences (2011-2014) Titolo della tesi: “Electronic properties of dye/ZnO interfaces for photovoltaic applications” presso Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, Dipartimento di Scienze Fisiche Informatiche e Matematiche.
- 2008 Abilitazione all’iscrizione all’albo dei chimici tramite Esame di stato.
- Laurea Specialistica in Scienze Chimiche (2008) con votazione finale di 110/110. Tesi dal titolo: “Sintesi e caratterizzazione di un reattivo di spostamento del segnale NMR chirale e idrosolubile”.
- Laurea Triennale in Chimica (2005) con votazione finale di 94/110. Tesi dal titolo: “Resistenza agli acidi di piastrelle ceramiche non smaltate appartenenti alla tipologia denominata Grès Porcellanato”.
- Collaborazione con il Prof. K. Micskei, Department of Inorganic and Analytical Chemistry – University of Debrecen, Hungary.
- Collaborazione con la Prof.ssa M. Stöhr, Zernike Institute for Advanced Materials – University of Groningen, The Netherlands.
- Collaborazione con la Prof.ssa V. De Renzi, Dipartimento di Fisica – Università degli studi di Modena e Reggio Emilia, Modena.
- Ricerca di nuovi metodi per la produzione di nanostrutture polimeriche e biocompatibili.
- Funzionalizzazione e caratterizzazione di nanomateriali polimerici per la produzione di sensori ad uso biomedicale.
- Responsabile gestione rifiuti speciali
- Tecniche di sintesi di composti organici e di complessi metallorganici; esperienza nell’uso della linea schlenk per reazioni condotte in atmosfera inerte.
- Ottimizzazione di materiali per elettrofilatura e produzione di scaffold tramite Bioprinting.
- Tecniche di caratterizzazione di composti organici ed inorganici: Spettrometria NMR, Spettroscopia UV e IR, Raggi X su polveri.
- Tecniche di caratterizzazione morfologica: Rugosimetro, microscopia elettronica SEM, microscopia a forza atomica AFM
- Funzionalizzazione di superfici di semiconduttori e caratterizzazione mediante tecniche in ultra-alto vuoto (XPS, UPS, HREELS, LEED, STM) finalizzata all’ottimizzazione di celle fotovoltaiche.
- Ricerca bibliografica tramite l’uso di piattaforme Scifinder, Web of Knowledge, PubMed.
- Analisi di superfici di materiale con profilometria e microscopia SEM.
- Studio dell’adesione fibra-matrice in materiali compositi, fibra di vetro e matrice poliuretanica termoindurita.
